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CCD显微线扫相机
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<p>XC-0H Micro Series Line Camera<br/>分辨率可达67，200dpi(375纳米)，非常适合晶圆表面高精度瑕疵检测！<br/>Advanced and Unique Pixel Size up to 375nm,<br/>A Suitable Solution for Wafer Surface High Precision Defect Inspection.</p>
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