您现在的位置:
产品中心
产品中心
  • 650纳米-晶圆表面缺陷检测AOI
  • 650纳米-晶圆表面缺陷检测AOI

    8寸/12寸兼容
    6
    50nm像素/适用多种芯片
    TS16949认证/矿物铸件抗震

    • 0.00
      0.00
商品描述

8寸/12寸兼容
6
50nm像素/适用多种芯片
TS16949认证/矿物铸件抗震